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Produktinformationen "Pomona Electronics 5250 Prüfspitze SOIC 8-Pin-Testclip 1 St."

Überblick



BuchsenØ

Beschreibung

Der 5250 ist ein SOIC-Testclip für 8-Pin-Gehäuse. Er wurde für In-Circuit-Tests an Small Outline Integrated Circuits (SOIC) entwickelt. Der Testclip stellt eine sichere Verbindung zu allen Chipleitungen her und ermöglicht Freihandtests.

Lieferumfang

1 SOIC 8-Pin Test Clip




Details
Technische Daten
WEEE-Reg.-Nr. DE30202500
Hinweise
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